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光応用技術シンポジウム Senspec2019

概要

日時
2019年6月13日(木)10:00~15:00
場所
パシィフィコ横浜 展示会場ハーバーラウンジ B(〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1)
プログラム
1.「Senspec2019開催に向けて」メカノフォトニクス専門委員会
2.「光計測のみならず計測の基本事項」新井泰彦(関西大学)
3.「光計測技術の実用化における課題(3次元計測における課題と解決案)」藤垣元治(福井大学)
4.「干渉計測:具体的な干渉計測技術」安達正明(公立小松大学)
5.「工業顕微鏡の用途と使い方」吉澤 慧(ニコン)
6.「光線収差と波面収差の意味および波面収差の干渉計測の基礎」渋谷眞人(東京工芸大学)
7.「マルチフィジックスソフトウェア利用による光学シミュレーション(電磁場解析~光線追跡~伝熱・固体力学連成解析)」橋口真宜(計測エンジニアリングシステム)
参加費
7,000円(テキスト1部,お試し版ソフト一式含)
申し込み方法
下記URLから申し込む。

問い合わせ:精密工学会 メカノフォトニクス専門委員会 Senspec2019 事務局(宇都宮大学 工学研究科 先端光工学専攻 大谷研究室内)
TEL/FAX:028-689-7136
E-mail:senspec2019@otanilab.org
URL:https://www.adcom-media.co.jp/senspec/

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