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~最新の光応用計測~

光応用技術シンポジウム Senspec

概要

光計測技術を利用するための基礎知識の再確認

 

 光計測技術は、二次元情報をone-shotで獲得することができる特徴があり、かつ自然界に存在する「波長を物差し」とすること、非接触であることなどから高い測定精度を実現することができます。さらに、センサー技術、コンピュータの進化をはじめとしたエレクトロニクス技術の発展に伴い、従来困難であると考えられていた測定が実施されるに至っております。ところが、光学技術を駆使するためにはその基礎知識を理解しなければ、縦横に利用することは困難です。その表れの一つとして光学計測は、専門性が高く、利用することが難しいなどとの誤解が生じています。
 本シンポジウムでは、精密工学会メカノフォトニクス専門委員会において光計測を永年研究テーマとしてきた、光学技術の利用の在り方を熟知した講師を中心に、光学技術を使いこなすために理解しておかなければならない基本事項の再確認を行います。同時に、技術者にとっての「困りごと」の相談窓口の提供を目指しております。さらに、受講者の学習環境の整備を図るために、セミナーで教材として使用する光学シミュレーションソフト(マルチフィジックス解析ソフトウェア”COMSOL Multiphysics”)のフル機能のお試し版を配布することで、シンポジウム参加者の学習を促進させることも目指したプログラムをご用意いたしております。

主催 精密工学会メカノフォトニクス専門委員会
開催日時 2019年6月13日(木) 10:00~15:00
開催場所 パシィフィコ横浜 展示会場 ハーバーラウンジ B
参加費 7,000 円(テキスト1部、お試し版ソフト一式を含む)
同時開催 画像センシング展2019
精密加工測定展2019
第25回 画像センシングシンポジウム(SSII)

プログラム

午前の部

10:00-10:10
Senspec2019開催に向けて
メカノフォトニクス専門委員会
10:10-10:40
光計測のみならず計測の基本事項
関西大学教授 新井泰彦
10:40-11:20
光計測技術の実用化における課題
(3次元計測における課題と解決案)
福井大学教授 藤垣元治
11:20-12:00
干渉計測:具体的な干渉計測技術
公立小松大学教授 安達正明

午後の部

13:00-13:40
工業顕微鏡の用途と使い方
(株)ニコン 吉澤 慧
13:40-14:20
光線収差と波面収差の意味および波面収差の干渉計測の基礎
東京工芸大学名誉教授 渋谷眞人
14:20-15:00
マルチフィジックスソフトウェア利用による光学シミュレーション(電磁場解析~光線追跡~伝熱・固体力学連成解析)
計測エンジニアリングシステム(株) 橋口真宜
15:00
終了予定

お申し込み方法

お申し込み方法 下記よりお申込ください。折り返しメールにて参加票をお送りいたします。 当日は参加票をご持参のうえで、会場受付にて参加費(7,000円)をお支払いください。受付の混雑を避けるため、当日は釣り銭がないようにご用意ください。
お問い合わせ先 宇都宮大学 工学研究科 先端光工学専攻 大谷研究室内
精密工学会 メカノフォトニクス専門委員会 Senspec2019事務局
〒321-8585 栃木県宇都宮市陽東7-1-2
TEL&FAX 028-689-7136  E-mail senspec2019@otanilab.org
参加申込フォームはこちら

書籍のご案内

三次元工学1
光三次元計測 第2版

編集
吉澤 徹
判型
A5、136ページ
価格
1,890円

お買い求めはこちら

三次元工学2
光三次元・産業への応用

編集
吉澤 徹
判型
A5
価格
3,900円

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