同時開催

国際画像セミナー

画像処理技術の最新情報や、新商品を紹介・PRする場として国際画像セミナーを開催いたします。
毎回多数のご聴講者を集める人気のセミナーです。こちらは10月中旬より展示会Webサイトにて参加登録を開始いたします。

ViEW2023 ビジョン技術の実利用ワークショップ

前回のViEW2022では、ViEW の原点に⽴ち返り、より本質的な画像技術応⽤の議論が出来るプログラムを構成、オンライン開催ながら、多数のご参加を頂き、⾮常に活発な議論が⾏われました。
ViEW2023 でも、この流れを踏襲しながら更に発展させるべく、現地会場で実際に顔を合わせて、最先端の画像認識技術と、その実利⽤について広く議論できる場を提供しつつも、オンラインでの参加もできるようにハイブリッド形式での開催を予定しています。

IAJ-A3画像技術セミナー

日本映像処理研究会(IAJ)と米国A3(Association for Advancing Automation)との
共同開催セミナー。
A3の英語プログラムを使用し、日本語にて画像処理技術の基礎を各分野のエキスパートが丁寧に解説いたします。
※本年は最新英語プログラムに添ってアップデートされた講義内容となります。
試験合格者は、技術レベルを国際的に証明できるA3公認 CVP-Basic ロゴマークが利用可能になります。
画像処理技術における各分野の基礎知識のアップデートに、ぜひふるってご参加ください。

第33回三次元工学シンポジウム

第33回三次元工学シンポジウムでは「光学素子の加工技術、形状計測技術及び光学素子の応用技術」をテーマに第一線でご活躍されている経験豊富な講師をお迎えし、ご講演いただきます。
産業界で注目されている光学素子の微細加工、ナノリソグラフィー及び形状計測技術について、現在の製造現場の課題解決や、トレンドとなる新技術、また、それらの光学素子を利用することによって可能となる、新規イメージング技術についてご紹介いただき現在の光学素子に関して俯瞰いたします。
昨今新しい技術が乏しい3次元計測における新たな計測技術の展開を知る貴重な機会になると考えられます。
なお、今回は会場参加だけでなく、ZOOMでのWEB配信での参加も可能ですので奮ってご参加ください。

第21回偏光計測研究会

偏光計測研究会は最新の研究成果のみならず、測定技術、解析技術、理論等についてのチュートリアルやレビューを開催しています。また、偏光計測を開発・提供している方はもとより、偏光計測をユーザーとして利用している方の技術交流の場です。
今回は、メタ(フェイスブック)のラッセル・チップマン先生と東京都立産業技術研究センター海老澤瑞枝先生お迎えして最新の偏光技術と光計測をお話しいただきます。また、後半は宇都宮大学オプティクス教育研究センター偏光⼯学研究拠点プロジェクトによる紹介、研究報告を交えて偏光工学・偏光計測の将来を考えていきます。
会場参加だけでなく、ZOOMでのWEB配信での参加も可能ですので奮ってご参加ください。

▼ プラチナスポンサー ▼

株式会社リンクス

東芝テリー株式会社

▼ メディアパートナー ▼

エキスポ・ゲートブリッジ

CIOE2024

APE2025

ダウンロード

展示会FAQ

IAJ-A3共同開催 画像技術セミナー

第33回三次元工学シンポジウム

第21回偏光計測研究会