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光応用技術シンポジウム(Senspec2018)

概要

日時
2018年6月14日(木)10:00~15:00
場所
パシフィコ横浜 展示会場 ハーバーラウンジB(〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1)
プログラム
1.「形状・変形計測の基礎技術」藤垣元治(福井大学)
2.「レーザー干渉計測の基礎技術」新井泰彦(関西大学)
3.「USB3.0 高速度カメラ」水谷 亮(ディテクト)
4.「サンプリングモアレカメラ」浅井大介(ヒカリ)
5.「ワイドバンド赤外線カメラ」水戸康生(ビジョンセンシング)
6.「コンピュテーショナル超高速CMOSイメージセンサ」香川景一郎(静岡大学)
参加費
7,000円(テキスト1部含)当日,受付にて現金で支払う。
申し込み方法
下記より申し込む。
https://www.adcom-media.co.jp/form/senspec/join/

問い合わせ:宇都宮大学 工学研究科 先端光工学専攻 大谷研究室内/精密工学会 メカノフォトニクス専門委員会 Senspec2018 事務局
〒321-8585 栃木県宇都宮市陽東7-1-2
TEL&FAX:028-689-7136

E-mail:senspec2018@otanilab.org

URL:https://www.adcom-media.co.jp/senspec/

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