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精密工学会 画像応用技術専門委員会 第5回定例研究会「検査・異常検知」

概要

日時
2022年1月21日(金)14:00~17:00
場所
オンライン開催
プログラム
1.「画像処理・機械学習技術を活用した外観検査の自動化に関する課題と期待」橋本大樹(みずほリサーチ&テクノロジーズ)
2.「ニーズの多様化する現場で創る検査事業」入谷敏充(第一実業)
3.「外観検査自動化における機械学習導入事例紹介」伊藤桂一(アダコテック)
4.「外観検査アルゴリズムコンテスト2021 開催報告」寺田賢治(徳島大学)
5.「ViEW2021ビジョン技術の実利用ワークショップ開催報告」加藤邦人(岐阜大学),西山正志(鳥取大学)
参加費
IAIP会員:無料,非会員:2,000円
申し込み方法
下記E-mail宛に申し込む。

問い合わせ:画像応用技術専門委員会事務局(アドコム・メディア(株)内)
TEL:03-3367-0571 FAX:03-3368-1519

E-mail:iaip@adcom-media.co.jp
URL:http://www.tc-iaip.org/index.shtml

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