【重要】技術情報誌『O plus E』休刊のお知らせ

ViEW2016 ビジョン技術の実利用ワークショップ

概要

日時
2016年12月8日(木)~9日(金)
場所
パシフィコ横浜 アネックスホール(〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1)
プログラム
【8日(木)9:00~20:00】
“使える”センシング技術
基調講演「様々なセンシング技術による技能教育サービスの見える化」鈴木 聡(東京電機大学)
ビジョン技術の世界を広げる非破壊検査
基調講演「宇宙線による大型構造物の非破壊イメージング」森島邦博(名古屋大学)
基調講演「X 線で拡がる透視検査~イメージングから画像計測へ~」青木 徹(静岡大学)
インタラクティブセッション1
外観検査アルゴリズムコンテスト2016 結果発表・表彰式
現場で働くセンシング:抗加齢とセンシング-生体信号から見えるものと声と若さと生きがいと-
基調講演「抗加齢とセンシング,声と若さと生きがいと」森山 剛(東京工芸大学)
特別講演1「科学技術とは何か?-持続可能性と豊かさを求めて-」所 真理雄(ソニーコンピュータサイエンス研究所)
懇親会(参加費:1,000円)(18:30~20:00)
【9 日(金)8:50~18:40】
最新ビジョン技術
特別講演2「宇宙と感性をつなぐ」山崎直子(元宇宙飛行士)
もっと身近になるVR・AR 技術
基調講演「地域活性化に向けたAR・VR活用のメリット・デメリット」武井康浩(みずほ情報総研)
基調講演「空間に浮かぶ映像がもたらすイノベーション:現実空間と仮想空間の融合に向けて」奥村治彦(東芝)
現場で活きる外観検査
インタラクティブセッション2
センシング サムシング-少し未来の暮らしをイメージしよう-
基調講演「センサーの顔つき,データの振る舞い」なかの かな(neurowear)
パネルディスカッション
小田原賞表彰
参加費
(講演論文集含): 【ウェブ事前登録(11月8日まで)】講演者・精密工学会会員・協賛組織会員:20,000円,一般:25,000円,学生:5,000円(11月8日以降は,Webページ参照)
申し込み方法
下記URLより申し込む。

問い合わせ:アドコム・メディア(株)内 画像応用技術専門委員会事務局「ViEW2016」係

〒169-0073 東京都新宿区百人町2-21-27

TEL:03-3367-0571

E-mail:iaip@adcom-media.co.jp

URL:http://www.tc-iaip.org/view2016/

掲示板 新着もっと見る

書籍案内購入はこちら

干渉計を辿る

著者
市原 裕
価格
3,000円(税抜)

第11・光の鉛筆

著者
鶴田匡夫(ニコン)
価格
5,500円(税抜)

コンピュータビジョン 最先端ガイド6

著者
藤代一成,高橋成雄,竹島由里子,金谷健一,日野英逸,村田 昇,岡谷貴之,斎藤真樹
価格
1,905円(税抜)

Excelでできる光学設計

著者
中島 洋
価格
3,909円円(税抜)

シミュレーションで見る光学現象 第2版

著者
Masud Mansuripur
訳:辻内 順平
価格
6,000円(税抜)

レンズ光学入門

著者
渋谷 眞人
価格
4,000円(税抜)

本誌にて好評連載中

私の発言もっと見る

一枚の写真もっと見る