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OplusE 2015年3月号(第424号)

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特 集
[計測技術にみる]時代はダウンサイジング
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特集

[計測技術にみる]時代はダウンサイジング

■特集にあたって
NPO三次元工学会 吉澤 徹
■オールインワン3Dスキャナーの開発
ニコン 青木 洋
■格子投影による位相シフト法を用いた小型三次元計測装置
ヒカリ 浅井 大介
■ダウンサイジングとロバスト性がもたらすデジタル干渉計の普及“ZYGO Miniシリーズ”
キヤノンマーケティングジャパン 鈴木 秀和
■小型化をはかったリニアエンコーダ「FIBER SCALE」
ミツトヨ 森 洋篤,川田 洋明,?橋 知隆
■手のひらサイズの広視野分光イメージング装置
香川大学 石丸 伊知郎
■LEDミニライダー開発とダスト計測への応用
千葉大学 椎名 達雄

特別企画

■国際画像機器展2014 特別招待講演
NEC 野崎 岳夫
■国際画像機器展2014 特別招待講演
富士通研究所 水谷 政美

連載

■【一枚の写真】陽子線照射中に生成する陽電子分布をチェレンコフ光計測で画像化
名古屋大学 山本 誠一
■【私の発言】安いものを活用してどのように性能を向上させるかが,腕の見せ所
三明電子産業 代表取締役社長 久保田 和俊
■【光エレクトロニクスの玉手箱】第25章 周期構造に出会う光(その1)
伊賀 健一,波多腰 玄一
■【コンピュータイメージフロンティア VFX 映画時評】
Dr.SPIDER
■【ホビーハウス】文具セットとスケルトンボディのカメラ
映像技術史研究家 鏡 惟史

コラム

■Event Calendar
■掲示板
■O plus E News/「光学」予定目次
■New Products
■オフサイド
■次号予告

本誌にて好評連載中

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