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現場で活かせる光を用いた計測の基礎と実例紹介

光応用技術シンポジウム Senspec

概要

企業などでの光技術初心者やこれから光を使った技術を必要とする技術者向けに講習会形式で光応用技術シンポジウムSenspec2012を開催します。最新のメカノフォトニクスでの代表的なトピックスである三次元形状、光学薄膜、ディジタルホログラフィ、干渉計、リアルタイム計測、GPU、マルチセンサ等の光計測技術を6テーマにわけそれぞれ最先端の企業やアカデミック分野で活躍する講師を招きわかりやすくお話しいただく予定です。なお、テキストには講演者による講義資料を配布いたします。

主催 精密工学会/精密工学会メカノフォトニクス専門委員会
会期 6月7日(木) 10:30~15:30
開催場所 パシフィコ横浜 展示会場 ハーバーラウンジB
同時開催 第27回 画像センシング展
第17回 画像センシングシンポジウム
お問い合わせ先 宇都宮大学オプティクス教育研究センター
精密工学会メカノフォトニクス専門委員会 大谷研究室内
〒321-8585 栃木県宇都宮市陽東7-1-2
TEL&FAX 028-689-7136  E-mail senspec@cc.tuat.ac.jp
ただし、講演者や講演内容に関するお問い合わせには応じかねます。

スケジュール

午前の部

10:30~10:40
イントロダクトリートーク
吉澤 徹 (NPO三次元工学会)
10:40~11:20
多層膜と膜計測の基礎
本宮 佳典(株式会社 東芝)

Keytopics反射率,エリプソメトリー,光学薄膜

11:20~12:00
ディジタルホログラフィの基礎
早崎 芳夫 (宇都宮大学CORE)

Keytopicsホログラフィ,干渉計,三次元

12:00~12:40
半導体製造におけるTopogrametry– フーリエ縞解析、波長走査干渉、光CD計測 –
稲 秀樹 (キヤノン(株) 総合R&D本部)

Keytopics形状計測,半導体,検査

午後の部

13:30~14:10
干渉縞解析による形状計測法
大谷 幸利 (宇都宮大学CORE)
14:10~14:50
実時間非接触三次元形状計測の基礎
吉川 宣一 (埼玉大学)

Keytopics三次元形状,リアルタイム計測, GPU

14:50~15:30
光を使った高精度3次元測定機
圓谷 寛夫 (株式会社ニコン インストルメンツカンパニー)

Keytopicsマルチセンサ, 三次元形状

お申し込み方法

参加費 5,000円(テキスト1部含む)
お申し込み方法 下記フォームよりお申込ください。折り返し出席票をお送りいたします。 当日は参加票をご持参のうえで、会場受付にて参加費をお支払いください。受付の混雑を避けるため、当日は釣り銭がないようにご用意ください。
お問い合わせ先 宇都宮大学オプティクス教育研究センター
精密工学会メカノフォトニクス専門委員会 大谷研究室内
〒321-8585 栃木県宇都宮市陽東7-1-2
TEL&FAX 028-689-7136  E-mail senspec@cc.tuat.ac.jp
ただし、講演者や講演内容に関するお問い合わせには応じかねます。

参加申込の受け付けは終了しました。
多くの方に申し込みいただき,ありがとうございました。

書籍のご案内

三次元工学1
光三次元計測 第2版

編集
吉澤 徹
判型
A5、136ページ
価格
1,890円

お買い求めはこちら

三次元工学2
光三次元・産業への応用

編集
吉澤 徹
判型
A5
価格
3,900円

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