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現場で活かせる光を用いた計測の基礎と実例紹介

光応用技術シンポジウム Senspec

概要

企業などでの光技術初心者やこれから光を使った技術を必要とする技術者向けに講習会形式で光応用技術シンポジウムを開催します。最新のメカノフォトニクスでの代表的なトピックスである、長さ、形状、内部、動き等を捉えるための光計測技術を6テーマにわけ、それぞれ最先端の企業で活躍する講師を招きわかりやすくお話しいただく予定です。なお、テキストには講演者が執筆した「光計測ポケットブック」を用います。

主催 精密工学会/精密工学会メカノフォトニクス専門委員会
協賛 日本光学測定機工業会
会期 6月9日(木) 10:30~15:30
開催場所 パシフィコ横浜 展示会場 ハーバーラウンジB
同時開催 第26回 画像センシング展
第17回 画像センシングシンポジウム
お問い合わせ先 宇都宮大学オプティクス教育研究センター大谷研究室内
〒321-8585 栃木県宇都宮市陽東7-1-2
TEL&FAX 028-689-7136  E-mail senspec@cc.tuat.ac.jp
ただし、講演者や講演内容に関するお問い合わせには応じかねます。

スケジュール

午前の部

10:30~10:40
イントロダクトリートーク
吉澤 徹 (NPO三次元工学会)
10:40~11:20
材料,物質の特性計測法
佐藤 卓司 (株式会社トプコン)

Keytopics材料の屈折率測定法,内部検査

11:20~12:00
光による長さの計測法
鳴海 達也 (株式会社ミツトヨ)

Keytopics長さ計測法,干渉計

12:00~12:40
縞解析による形状の計測法
葛 宗涛 (富士フイルム株式会社)

Keytopics干渉計,三次元形状計測,位相シフト法

午後の部

13:30~14:10
光による変位・変形・内部の計測法
有賀 亨 (キヤノン株式会社)

Keytopics形状計測法,内部計測法

14:10~14:50
光による欠陥検査技術
藤森 義彦 (株式会社ニコン)

Keytopicsキズ検査,欠陥検査

14:50~15:30
顕微鏡による微細物体の計測法
石渡 裕 (オリンパス株式会社)

Keytopics顕微鏡検査,形状検査

お申し込み方法

参加費 9,000円 ※資料1部を含む
お申し込み方法 下記フォームよりお申込ください。折り返し出席票をお送りいたします。 当日は参加票をご持参のうえで、会場受付にて参加費をお支払いください。受付の混雑を避けるため、当日は釣り銭がないようにご用意ください。
お問い合わせ先 宇都宮大学オプティクス教育研究センター大谷研究室内
〒321-8585 栃木県宇都宮市陽東7-1-2
TEL&FAX 028-689-7136  E-mail senspec@cc.tuat.ac.jp
ただし、講演者や講演内容に関するお問い合わせには応じかねます。

参加申込の受け付けは終了しました。
多くの方に申し込みいただき,ありがとうございました。

書籍のご案内

三次元工学1
光三次元計測 第2版

編集
吉澤 徹
判型
A5、136ページ
価格
1,890円

お買い求めはこちら

三次元工学2
光三次元・産業への応用

編集
吉澤 徹
判型
A5
価格
3,900円

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