セミナー・スケジュール

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◇イメージセンシングセミナー

講演ID: I-171
講演日時: 6/11(水)
16：10～17：00
講演会場: 特設セミナールーム

セミナー名: イメージセンシングセミナー：特別招待講演
講演名: 異常などの少ないデータを精度よく検知するには？
～不均衡データのための新しい学習方法～
講演者名: NECビジュアルインテリジェンス研究所主席研究員佐藤敦
講演概要: 正常データは大量に得られるが、異常データは少量しか得られない。このような不均衡データを高精度に識別する、新たな学習方法を紹介する。ROC曲線の上側の面積を最小化することで、AUC最大化よりも少ない計算量で効率よく学習できるのが特長。一般物体認識用公開データや、カラーコンタクト検知用画像データを用いた実験により、不均衡データに対して、深層学習やAUC最大化よりも識別精度を改善できることを確認した。
経歴: 1989年東北大学大学院理学研究科博士課程了。理学博士。同年NEC入社、中央研究所にてパターン認識、機械学習の研究開発に従事。郵便区分機向け文字認識の開発、顔認証エンジンNeoFaceの開発にも携わる。1994～1995年米国ワシントン大学客員研究員、2008年米国マサチューセッツ工科大学客員研究員、2007年～2010年群馬大学大学院工学研究科非常勤講師、2016～2021年東京大学大学院情報理工学系研究科客員教授、2017～2022年理研AIP-NEC連携センター副連携センター長。現在、NECビジュアルインテリジェンス研究所主席研究員、京都大学大学院情報学研究科非常勤講師、東京科学大学大学院情報通信コース非常勤講師。2017年度MIRU優秀賞、2016年度MIRU長尾賞(最優秀論文賞)、2016年度FCV Best Paper Award、2014年度全国発明表彰発明賞、2012年度関東地方発明表彰神奈川県知事賞、2012年度電子情報通信学会業績賞、2011年度先端技術大賞フジサンケイビジネスアイ賞、2010年度情報処理学会喜安記念業績賞、2009年度人工知能学会現場イノベーション賞銀賞など受賞。