(株)オフィールジャパンは，高精度なビーム品質の自動計測が可能な「BeamSquared M2値測定システム」を販売すると発表した。この製品は，波長266～1100nmのCWまたはパルスレーザーに対応しており，受光するカメラをInGaAsカメラへ変更することで波長900～1700nmでも測定できる。旧モデルのM2-200sのオプティカルトレインを設計変更したことでISO 11146に準拠したM2値の測定を1分以内で行える。