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3次元で高感度の変位・ひずみ解析が可能な測定システム(株)オプトサイエンス

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3次元で高感度の変位・ひずみ解析が可能な測定システム
(株)オプトサイエンスは,Dantec Dynamics社の変位・ひずみ測定システム「Q-300シリーズ」の販売を開始した。この製品は,電子スペックル干渉法(ESPI)を使用しており,高感度全視野測定,非接触でサンプルに対する前処理等の必要ないのを特長とする。孔/穴のあるようなサンプルや膜のような変形しやすいサンプルの測定も可能としている。

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