【重要】OplusE 本体価格・定期購読料金改定のお知らせ

3次元で高感度の変位・ひずみ解析が可能な測定システム(株)オプトサイエンス

※掲載1年を経過した記事につきましては,資料請求をすることはできません。

3次元で高感度の変位・ひずみ解析が可能な測定システム
(株)オプトサイエンスは,Dantec Dynamics社の変位・ひずみ測定システム「Q-300シリーズ」の販売を開始した。この製品は,電子スペックル干渉法(ESPI)を使用しており,高感度全視野測定,非接触でサンプルに対する前処理等の必要ないのを特長とする。孔/穴のあるようなサンプルや膜のような変形しやすいサンプルの測定も可能としている。

New Products 新着もっと見る

書籍案内購入はこちら

干渉計を辿る

著者
市原 裕
価格
3,000円(税抜)

光エレクトロニクスの玉手箱IV

著者
伊賀健一・波多腰玄一
価格
4,300円(税抜)

第11・光の鉛筆

著者
鶴田匡夫(ニコン)
価格
5,500円(税抜)

Excelでできる光学設計

著者
中島 洋
価格
3,909円円(税抜)

シミュレーションで見る光学現象 第2版

著者
Masud Mansuripur
訳:辻内 順平
価格
6,000円(税抜)

レンズ光学入門

著者
渋谷 眞人
価格
4,000円(税抜)

本誌にて好評連載中

一枚の写真もっと見る

研究室探訪もっと見る