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広帯域と低周波の2機種登場で分光解析機能が充実(株)アドバンテスト

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広帯域と低周波の2機種登場で分光解析機能が充実
(株)アドバンテストは,テラヘルツ波を用いて測定対象物を非破壊解析するテラヘルツ分光イメージングシステム「TAS7500シリーズ」の新製品として2機種を発表した。「TAS7500SU」はさまざまな解析用途をカバーする広帯域仕様(0.5~7THz),「TAS7500SL」はテラヘルツ帯無線通信の材料開発などに適した低域仕様(30GHz~2THz)。 これにより,測定対象が従来の医薬品だけではなく,さまざまな化学物質やテラヘルツ帯無線通信向け材料などにも展開できるようになる。また,新たに開発した分光解析用の「透過偏光解析モジュール」により,光学異方性物質などの偏光特性解析も可能になったとする。

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