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高精細ディスプレイを高精度・短時間に測定する欠陥検査システムサイバネットシステム(株)

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高精細ディスプレイを高精度・短時間に測定する欠陥検査システム
サイバネットシステム(株)は,自社開発したFPD欠陥検査システム「FPIS」の販売を開始した。FPISは,目視では検出困難な高精細ディスプレイの欠陥を,移動ステージを使用することなく検出可能とする。 欠陥画素を検出しその正確なアドレスを出力,1台のカメラでディスプレイ全体を撮影,ディスプレイとカメラの位置合わせが容易とし,検査員の個人差に影響されない正確かつ定量的な評価を実する。測定項目は,欠陥画素(滅点,輝点,線欠陥)の検出,FPD全画面の輝度分布測定,輝度均一性評価など。

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