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ニュース

超高精度平面度測定装置を開発

産業技術総合研究所と(株)テクニカルは共同で,超高精度平面ガラス基板を開発したと発表した。 今回開発した超高精度平面度測定装置は,測定原理と装置構成がともにとてもシンプルであるにもかかわらず,平面度測定の再現性が,口径3 … (続きを読む…)

「3次元構造撮像デバイス」の技術開発に成功

NHKは,東京大学生産技術研究所と共同で,カメラに搭載する新たな撮像デバイスの技術開発に成功したと発表した。 現在の一般的な撮像デバイスは,多数の画素から信号を順次読み出す構造になっており,画素数を増やすと信号出力に時間 … (続きを読む…)

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