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高精度な自動計測が可能なM2ビーム品質測定システム(株)オフィールジャパン

資料請求フォームへ 資料請求番号:171103 高精度な自動計測が可能なM2ビーム品質測定システム
 (株)オフィールジャパンは,高精度なビーム品質の自動計測が可能な「BeamSquared M2値測定システム」を販売すると発表した。この製品は,波長266~1100nmのCWまたはパルスレーザーに対応しており,受光するカメラをInGaAsカメラへ変更することで波長900~1700nmでも測定できる。旧モデルのM2-200sのオプティカルトレインを設計変更したことでISO 11146に準拠したM2値の測定を1分以内で行える。

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