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ViEW2017 ビジョン技術の実利用ワークショップ

概要

日時
2017年12月7日(木)~8日(金)
場所
パシフィコ横浜 アネックスホール(〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1)
プログラム
【7日(木)9:10~20:00】
基調講演1「IoT時代に向けた外観検査と標準化」野中一洋(産業技術総合研究所)
基調講演2「質感の画像認識について」岡谷貴之(東北大学)
インタラクティブセッション
外観検査アルゴリズムコンテスト2017
特別企画セッション1「未来を感じさせるクルマ・未来を見据えたテクノロジー」
基調講演:野辺継男(インテル)
講演:上田哲郎(日産自動車)
講演:高橋巧一(NEC)
特別講演1「画像技術の学術的覚悟-もっと深く,広く,もっと先に-」輿水大和(中京大学)
懇親会(ベイブリッジカフェテリア:パシフィコ横浜会議センター6F)
【8日(金)9:15~17:55】
基調講演3「画像・映像解析ベンチマークとその功罪」佐藤真一(国立情報学研究所)
基調講演4「8K 超高解像度映像技術の医療応用:8K内視鏡と8K顕微鏡の実現へ」山下紘正(カイロス)
インタラクティブセッション
特別企画セッション2「未来に向けた画像処理技術」
小田原賞表彰式  
特別講演2「産業に浸透するMixed Reality」榊原 彰(日本マイクロソフト)
参加費
(講演論文集含)【ウェブ事前登録(11月8日まで)】講演者・精密工学会会員・協賛組織会員:20,000円,一般:25,000円,学生:5,000円(11月8日以降は,Webページ参照)
申し込み方法
下記URLより申し込む。
締め切り
2017年11月8日(水)

問い合わせ:アドコム・メディア(株)内「ViEW2017」係
〒169-0073 東京都新宿区百人町2-21-27
TEL:03-3367-0571

E-mail:iaip@adcom-media.co.jp

URL:http://www.tc-iaip.org/view2017/

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