【重要】技術情報誌『O plus E』休刊のお知らせ

PVI2017外観検査ワークショップ-目視検査の異次元展開と自動化-

概要

日時
2017年12月6日(水)9:30~16:30(8:30~受付)
場所
パシフィコ横浜アネックスホール F201(〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1)
プログラム
1.「開会」石井 明(香川大学)
2.基調講演「周辺視目視検査法」佐々木 章雄(周辺視目視検査研究所)
3.WS1:司会: 楫野 肇(ちゅうごく産業創造センター)
新たな目視検査法展開のための支援技術
(1)「目視検査現場の現状分析」佐々木 章雄(周辺視目視検査研究所)
(2)「検査員の健康評価方法」森 由美(横浜国立大学),今堀勇三(イマック)
(3)「目視検査オフライン教育訓練」石井 明(香川大学),金田篤幸(ガゾウ)
4.目視検査支援機器デモ展示(会場内設置)
①目視検査教育訓練システム(ガゾウ)
②靴式下肢加重計 BALANCE AID(イマック)
③ウェアラブルアイトラッキングシステム(トビー・テクノロジー)
5.WS2:司会:広瀬 修(住友化学)
周辺視目視検査法導入のポイント
6.特別講演「周辺視目視検査法の脳科学的理解」中村 俊(東京農工大学)
7.総括討論 司会:石井 明(香川大学)
8.「閉会」梅田和昇(画像応用技術専門委員会委員長)
参加費
一般:20,000円,感察工学研究会委員・画像応用技術専門委員会・ViEW2017登録者・教育機関:10,000円
申し込み方法
下記URLから申し込む。
締め切り
2017年11月8日(水)

問い合わせ:感察工学研究会/石井 明
TEL:087-864-2321(直通)

E-mail:ishii@eng.kagawa-u.ac.jp

URL:http://www.tc-iaip.org/PVI2017

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