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光応用技術シンポジウム(Senspec2017)「最新の光応用計測」

概要

日時
2017年6月8日(木)10:00~15:35
場所
パシフィコ横浜 展示会場 ハーバーラウンジB(〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1)
プログラム
1.「イントロダクトリートーク 三次元計測の基礎」新井泰彦(関西大学)
2.「ライトフィールド技術の基礎」岩根 透(ニコン)
3.「複眼画像技術の基礎」堀崎遼一(大阪大学)
4.「光コヒーレンストモグラフィの基礎」岩井俊昭(東京農工大学)
5.「超解像顕微鏡の基礎」川田善正(静岡大学)
6.「偏光計測の基礎」川畑州一(東京工芸大学)
7.「分光計測の基礎」田所利康(テクノ・シナジー)
8.「クロージング・リマークス」大谷幸利(宇都宮大学)
参加費
7,000円(テキスト1部含)当日,受付にて現金で支払う。
お申し込み方法
下記より申し込む。
https://www.adcom-media.co.jp/form/senspec/join/

お問い合わせ:宇都宮大学 工学研究科 先端光工学専攻大谷研究室内/精密工学会 メカノフォトニクス専門委員会 Senspec2017 事務局

〒321-8585 栃木県宇都宮市陽東7-1-2

TEL&FAX:028-689-7136

E-mail:senspec2017@otanilab.org

URL:https://www.adcom-media.co.jp/senspec/

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